স্বয়ংক্রিয় অপটিক্যাল পরিদর্শন (AOI) হলো প্রিন্টেড সার্কিট বোর্ড (PCB) (বা এলসিডি, ট্রানজিস্টর) উৎপাদনের একটি স্বয়ংক্রিয় চাক্ষুষ পরিদর্শন পদ্ধতি, যেখানে একটি ক্যামেরা স্বয়ংক্রিয়ভাবে পরীক্ষাধীন ডিভাইসটিকে মারাত্মক ত্রুটি (যেমন অনুপস্থিত উপাদান) এবং গুণগত ত্রুটি (যেমন ফিলেটের আকার বা আকৃতি অথবা উপাদানের বাঁক) উভয়ের জন্যই স্ক্যান করে। এটি উৎপাদন প্রক্রিয়ায় ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয় কারণ এটি একটি স্পর্শবিহীন পরীক্ষা পদ্ধতি। এটি উৎপাদন প্রক্রিয়ার বিভিন্ন পর্যায়ে প্রয়োগ করা হয়, যার মধ্যে রয়েছে বেয়ার বোর্ড পরিদর্শন, সোল্ডার পেস্ট পরিদর্শন (SPI), প্রি-রিফ্লো এবং পোস্ট-রিফ্লো সহ অন্যান্য পর্যায়।
ঐতিহাসিকভাবে, AOI সিস্টেমের প্রধান ব্যবহার ছিল সোল্ডার রিফ্লো-এর পরে বা “উৎপাদন-পরবর্তী” পর্যায়ে। এর মূল কারণ হলো, রিফ্লো-পরবর্তী AOI সিস্টেমগুলো লাইনের এক জায়গায় একটিমাত্র সিস্টেমের মাধ্যমেই বেশিরভাগ ধরনের ত্রুটি (যেমন কম্পোনেন্টের অবস্থান, সোল্ডার শর্ট, সোল্ডারের অনুপস্থিতি ইত্যাদি) পরীক্ষা করতে পারে। এভাবে ত্রুটিপূর্ণ বোর্ডগুলো পুনরায় মেরামত করা হয় এবং অন্য বোর্ডগুলোকে পরবর্তী প্রক্রিয়াকরণ পর্যায়ে পাঠানো হয়।
পোস্ট করার সময়: ২৮-ডিসেম্বর-২০২১